日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀
產品型號: HF-100DCA
所屬分類:
產品時間:2024-09-07
簡要描述:日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA以硅塊,JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(單晶/多晶硅)測量樣品直流方式接觸測量通過示波器和PC進行數據處理(軟件)
詳細說明:
日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA
![](https://img75.chem17.com/gxhpic_826b8d8dc3/5025b523e66012f4f84498d5c04f27daf1fd71dd353afc3f7f9a7016b843beb7d3c9c0a3422c7404.jpg)
產品特點
- 以硅塊,JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(單晶/多晶硅)測量樣品
- 直流方式接觸測量
- 通過示波器和PC進行數據處理(軟件)
測量規格
測量目標
硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀
測量尺寸
硅錠,JIS tanzaku形狀(請聯系我們)
測量范圍
約50μS至20 mS
日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA
產品特點
- 以硅塊,JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(單晶/多晶硅)測量樣品
- 直流方式接觸測量
- 通過示波器和PC進行數據處理(軟件)
測量規格
測量目標
硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀
測量尺寸
硅錠,JIS tanzaku形狀(請聯系我們)
測量范圍
約50μS至20 mS